导热率测定仪

简要描述：DZDR-S导热率测试仪是南京大展仪器生产，采用瞬态热源法，其特点示测量速度快，能够在5~160s内计算出导热系数，测试范围广，可对液体、粉末、固体、膏体和薄膜等进行测试，全新的外形设计，简约小巧，双向操作简单，应用范围广等优势。

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产品介绍：

DZDR-S导热率测试仪是南京大展仪器生产，采用瞬态热源法，其特点示测量速度快，能够在5~160s内计算出导热系数，测试范围广，可对液体、粉末、固体、膏体和薄膜等进行测试，全新的外形设计，简约小巧，双向操作简单，应用范围广等优势。

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测试范围：

DZDR-S导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。

测试方法：

DZDR-S导热率测试仪仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。

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性能优势：

1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；

2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；

3.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；

4.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；

5.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；

6.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；

7.探头上的数据采集使用了数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；

8.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确。

技术参数：

测试范围	0.0001—300W/(m*K)
测量温度范围	室温—130℃
探头直径	一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm
精度	±3%
重复性误差	≤3%
测量时间	5~160秒
电源	AC 220V
整机功率	＜500w
测试样品功率P	一号探头功率0；二号探头功率0
样品规格	一号探头所测样品（≥15153.75mm）二号探头所测样品 (≥30307.5mm) 三号探头所测样品 (≥50507.5mm) （选配，也可以定制其他规格）
定制粉末测试容器一套

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